手持XRF土壤重金屬分析儀
- 產品名稱：手持XRF土壤重金屬分析儀
- 產品型號：
- 產品廠商：日立分析
- 產品文檔：
手持XRF土壤重金屬分析儀
的詳細介紹格雷弗工業裝備（蘇州）有限公司，專業銷售分析檢測儀器，產品種類齊全，有競爭力的產品價格，了解和滿足客戶需要是我們一切工作的出發點。
手持式X光熒光分析儀(HHXRF)的X-MET8000系列提供進行快速的合金等級鑒定及多種材料（固體和粉末金屬、聚合物、木材、溶液、土壤、礦石、礦物等）的準確化學結構分析所需的性能。 X-MET方便、耐用且使用簡單，可為您提供可靠的結果。
我們提供多種型號的產品，符合您不同應用的所有分析需要和預算。
為什么選擇 X-MET 光譜儀
超越性能
X-MET提供極好的輕元素 （鎂、鋁、硅、磷、硫、氯）分析，檢測限度低，且可每天提供準確可靠結果。通過靈活的基本參數法(FP)法進行分析，從而測試多種材料；或若需結果可追溯和高度準確，則使用實證校準。
操作簡單
大觸摸屏和基于圖標的用戶界面，使用戶只需要極少的培訓便可開始操作。
符合人體工學
X-MET輕便（僅1.5公斤）、簡潔、平衡性好，可供長時間使用，而疲勞度非常低。
堅固耐用而擁有成本低
符合IP54要求（等同于NEMA 3）、防水、防塵的X-MET可供室內外使用。
通過MIL-STD-810G軍用耐用標準測試。
其可選的防扎窗口膜可預防在粗糙表面上測量導致探測器損壞而出現的高昂維修費用。
上等數據管理
完全靈活：可將多達100,000條結果保存在X-MET上，將報告輸出到U盤或個人計算機，或自動將X-MET數據存儲在LiveData云端。
應 用
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X-MET8000 |
X-MET8000 |
X-MET8000 |
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廢金屬回收 |
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材料可靠性鑒定(PMI)檢查 |
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制造與 PMI QA/QC |
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貴金屬 |
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監管機構合規篩查 （消費品、包裝、原材料…） |
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√ X-MET8000 Expert CG |
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環境土壤篩查 |
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X-MET8000 |
√ X-MET8000 Expert Geo |
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礦石和礦物 |
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X-MET8000 |
√ X-MET8000 Expert Geo |
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金屬鍍層厚度測量 |
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√ X-MET8000 Expert / Expert CG |
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科技考古 |
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√ X-MET8000 Expert / Expert CG / Expert Geo |
手持式XRF光譜儀應用于材料可靠性鑒定
手持式XRF光譜儀應用于廢舊金屬回收
手持式XRF光譜儀應用于采礦
手持式XRF光譜儀應用于土壤重金屬檢測
手持式XRF光譜儀應用于合規性檢測
手持式XRF光譜儀應用于鍍層測厚
手持式XRF光譜儀應用于考古
手持式XRF光譜儀應用于貴金屬和珠寶檢測
比較型號
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X射線管：40kV
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濾光片：單一
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檢測器：大面積 SDD
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*高樣本溫度：400oC
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符合 IP54 等級
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Thick Kapton®窗口：保護以預防探測器的窗戶損壞
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校準：基本參數法(FP)
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內置攝像頭 （可選）
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X射線管：40kV or 50kV
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濾光片：6位濾光轉換器
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檢測器：大面積 SDD
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*高樣本溫度：100oC 或通過 HERO? 耐熱窗戶400oC（可選)
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符合 IP54 等級
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可選窗口防護罩：預防檢測器的窗口損壞進行保護
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校準：基本參數法 （包括輕元素分析）
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內置攝像頭（可選）
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小光班準直器（可選）
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針對所有元素（從鎂到鈾）進行優先分析的六位濾光片
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X射線管：50kV
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濾光片：6位濾光轉換器
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檢測器：大面積 SDD
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*高樣本溫度：100oC 或通過 HERO? 耐熱窗戶400oC（可選)
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符合 IP54 等級
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可選窗口防護罩：預防檢測器的窗口損壞進行保護
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校準方法：自動跳轉的經驗系數法（可進行追溯）
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內置攝像頭
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小光班準直器 （可選)
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針對所有元素，從鎂到鈾，的優先分析的六位濾光片
如需了解更多 請致電格雷弗工業裝備（蘇州）有限公司
電話：189-6214-2360
聯系人：蔣經理